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フィルム/ガラスマスク検査機
TSL-EX4
機能豊富、高コスパ。
前作業不要、即時に検査執行可能。
フィルム検査では、検出可能な最小欠陥は12umで、最小線幅/距離は40um。
機能豊富、高コスパ。前作業不要、即時に検査執行可能。フィルム検査では、検出可能な最小欠陥は12umで、最小線幅/距離は40um。
応用
光学撮影システムを通し、フィルムにある各種の欠陥をすぐに見ることができる。フィルムの不良によるロスを下げ、製品の品質を向上させる。
機能紹介
検査速度:
< 90sec 5 µm/pixel (検査範囲:500 x 400mm)
検査能力:
最小線幅/距離:40 µm
検出可能な最小欠陥:12 µm
固定倍率カメラセット:5 um
検査モード (DRCロジック比較):
AIで人の目で検査することをシミュレーションする。
操作が簡単で、外部データ不要。
検査可能な欠陥としては、規則性のない断裂/接続や、ピンホールや、汚れや、不規則的な凹凸や、線幅/距離不足などが含まれている。
簡単なパラメータ設定:
自動核心パラメータ、ほこりを無視、空白エリアを無視、検査不要モデルなど。
リアルタイム画面:
パラメータや画像が変更されると、ソフトウェアは欠陥の表示枠を更新し、リアルタイムで新しいパラメータ設定を反応した欠陥検出結果を画面に表示する。
Review on Fly:
スキャンの待ち時間は不要。すぐに欠陥再検査を行える。
検査開始から再検査までの待ち時間は0秒。
欠陥画像を複数枚同時に閲覧することができ、再検査時間を短くできる。
測量機能:
線幅、線距離、円形、矩形、斜め矩形、中心点距離、物体間隔距離、長距離測量。
リアルタイムで多国語に切り替える:
言語の切り替えにはソフトウェアの再起動は不要。多国語での作業が可能。(繫体中国語、簡体中国語、英語、日本語)
コンピューターバックアップシステム:
ダブルハードディスク/ダブルオペレーティングシステム。システムの異常を迅速に解決し、リアルタイムでハードディスク/オペレーティングシステムを切り替え、検査機を止めることが不要。
自動スタンプ機能:
フィルム上の欠陥の位置をリアルタイムでマーキングする。
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