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底片/菲林片/光罩检查机
TSL-FVT-DX6 Super High
大面积光罩检测,最细小缺陷检出;
自动对焦系统,解决离焦困扰;
分辨率更高,检测更完整。最小可检2um缺点。
大面积光罩检测,最细小缺陷检出;自动对焦系统,解决离焦困扰;分辨率更高,检测更完整。最小可检2um缺点。
应用
透过光学取像系统,快速检视光罩上的各种缺陷,降低因光罩不良而造成的报废和损失,以提升产品质量。配备自动对焦系统,可以克服光罩变形所造成的离焦。
性能特点
检查速度:
< 17 min 0.63 µm/pixel (检查范围:500 x 400mm)
检查能力:
最小线宽/距:6.5 µm 以上
最小可检出缺陷:2 µm
固定倍率镜头:0.63 um/pixel
检测模式:两种模式可以同时进行,不影响扫描时间
DRC逻辑比对:
各式AI人工智能,仿真人眼检查逻辑
操作简单,不需外部数据
可检查不规则断裂/链接、针孔、污点、不规则凹凸、线宽/距不足…等缺陷。
数据比对:
实时数据比对:比较扫描影像与参考图文件的差异,可检出图像偏移、图像形变、遗漏或增加的图像等缺点。如:PAD偏移、多PAD或少PAD…等。
网络比对:比较编修前后图文件间的网络差异,不检图像的形变,只检以下四种缺点:断路、短路、减少或多出之封闭图像。
支援Gerber RS274X、ODB++、GDSII、DXF 配备独立工作站,来完成前置数据处理作业,不占用机台扫描检查时间。
实时自动对焦:
支援Gerber RS274X、ODB++、GDSII、DXF 配备独立工作站,来完成前置数据处理作业,不占用机台扫描检查时间。
可调整式活动框架:
可应对各种不同尺寸的光罩改变。
简易的参数设定:
自动核心参数、移去尘埃、忽略空旷区、忽略模型…等。
所见即所得:
当参数或影像改变时,软件会自动更新缺点框。让实时影像随时显示新参数的缺点判定结果。
Review on Fly:
无须任何等待扫描完毕的时间,即可进行缺点复检
从检测开始到等待复检时间等于0秒
缺点预览模式,同时预览多张缺点,加快复检时间
量测功能:
线宽、线距、圆形、矩形、斜矩形、中心距、物间距、长距离量测。
实时切换多国语言:
切换多国语言不需重开软件,适合多语言环境。(繁体中文、简体中文、英文、日文)
计算机备援系统:
双硬盘/双操作系统,快速解决系统异常,实时切换,机台不停滞。
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