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底片/菲林片/光罩检查机
TSL-EX4
功能完善,高性价比;
不需要任何前置处理,立即进行检测。
针对底片/菲林片检测条件,可检最小缺陷12um,可检最小线宽/距40um以上。
功能完善,高性价比;不需要任何前置处理,立即进行检测。针对底片/菲林片检测条件,可检最小缺陷12um,可检最小线宽/距40um以上。
应用
透过光学取像系统,快速检视底片/菲林片上的各种缺陷,降低因底片/菲林片不良而造成的报废和损失,以提升产品质量。
性能特点
检查速度:
< 90sec 5 µm/pixel (检查范围:500 x 400mm)
检查能力:
最小线宽/距:40 µm 以上
最小可检出缺陷:12 µm
固定倍率镜头组:5 um
检测模式 (DRC逻辑比对):
各式AI人工智能,仿真人眼检查逻辑
操作简单,不需外部数据
可检查不规则断裂/链接、针孔、污点、不规则凹凸、线宽/距不足…等缺陷。
简易的参数设定:
自动核心参数、移去尘埃、忽略空旷区、忽略模型…等。
所见即所得:
当参数或影像改变时,软件会自动更新缺点框。让实时影像随时显示新参数的缺点判定结果。
Review on Fly:
无须任何等待扫描完毕的时间,即可进行缺点复检
从检测开始到等待复检时间等于0秒
缺点预览模式,同时预览多张缺点,加快复检时间
量测功能:
线宽、线距、圆形、矩形、斜矩形、中心距、物间距、长距离量测。
实时切换多国语言:
切换多国语言不需重开软件,适合多语言环境。(繁体中文、简体中文、英文、日文)
计算机备援系统:
双硬盘/双操作系统,快速解决系统异常,实时切换,机台不停滞。
自动盖印功能:
实时标记缺陷位置于底片/菲林片。
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